XAN 220/222 XAN 250/252

Glavna namena uređaja XAN (ED XRF metod) je merenje debljine prevlaka i analiza legura zlata i drugih plemenitih metala. Uređaji se izdvajaju po lakoći korišćenja i odličnom odnosu performanse/cena.

 

Karakteristike:
- jednostavno korišćenje
- brzo i jednostavno pozicioniranje uzoraka jer se meri odozdo
- prilagodljivost na zahtevnost namene u raznim industrijama
- neporušno merenje debljjine prevlaka i analize sastava

Namena:
- merenje debljine prevlaka: prevlake od plemenitih metala debljine nekoliko nanometara, analiza modernih višeslojnih prevlaka koje se koriste kao zamena za nikalne materijale za modni nakit
- analiza materijala: određivanje sastava i čistoće zlatnog nakita, satova i kovanica, određivanje čistoće legura plemenitih metala, opšta analiza materijala u laboratoriji, institutima i univerzitetima
 

Brošura