COULOSCOPE CMS2

Kuloskopski uređaji mere debljinu prevlaka oduzimanja materijala elektrolizom (porušni metod). Ovaj metod se koristi za precizno određivanje više slojeva na raznim podlogama. 

Mogućnosti:
- precizna merenja više slojeva prevlaka kulometrijskim metodom
- jednostavno korišćenje
- svestrana namena - merenje na metalnim in nemetalnim podlogama, takođe i za višeslojne prevlake
- širok izbor dodataka

Namena:
- bilo koja metalna prevlaka na metalnim ili nemetalnim podlogama
- merenje jednog ili više slojeva
- posebno prikladan za merenje više slojeva nikla upotrebom STEP testa
- prikladan za debljine prevlaka od 0.05 µm do 40 µm